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新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是儿童神经系统损伤的常见原因之一,严重者将造成永久性神经损害,因此早期诊断 HIE对患儿的预后评价和及早制订治疗方案具有重要的临床意义。探讨 HIE的早期评价方法是目前亟待解决的问题。磁共振扩散加权成像(DWI)、扩散张量成像(DTI)、磁共振波谱成像(MRS)是近年来在探讨 HIE 早期诊断方面应用较多的 MR功能成像技术。三种技术对 HIE的诊断有着各自不同的特定时间窗,因此通过对不同时间窗 HIE 进行影像学检查,探索不同时间窗的最佳检查方法和手段,可为 HIE的早期诊断和预后评价提供更准确的依据。

作者:王凡;李红

来源:放射学实践 2015 年 8期

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作者:
王凡;李红
来源:
放射学实践 2015 年 8期
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新生儿缺氧缺血性脑病 磁共振成像 扩散加权成像 早期诊断 预后评价
新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是儿童神经系统损伤的常见原因之一,严重者将造成永久性神经损害,因此早期诊断 HIE对患儿的预后评价和及早制订治疗方案具有重要的临床意义。探讨 HIE的早期评价方法是目前亟待解决的问题。磁共振扩散加权成像(DWI)、扩散张量成像(DTI)、磁共振波谱成像(MRS)是近年来在探讨 HIE 早期诊断方面应用较多的 MR功能成像技术。三种技术对 HIE的诊断有着各自不同的特定时间窗,因此通过对不同时间窗 HIE 进行影像学检查,探索不同时间窗的最佳检查方法和手段,可为 HIE的早期诊断和预后评价提供更准确的依据。